Excipolar Spinon瞬態吸收光譜儀  
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高分辨、多維度、可靠且易用

　　高精度瞬態吸收光譜系統為微納材料、體材料、溶液等的瞬態吸收特性提供了強大的測試平臺。飛秒級時間分辨率精確表征不同時刻的吸收特性，寬波段響應范圍表征不同波長處的吸收能力和變化，納秒級的時間窗口表征大時間尺度范圍內的吸收變化特點，微米級空間分辨率精確表征樣品的空間吸收差異。可根據客戶需求定制化產品，比如擴展低溫、光電流、低溫磁場等功能。Excipolar Spinon系統是一款高分辨、高精度、兼容單色/多色、穩定而高可靠性的瞬態光譜檢測系統，能夠全面滿足科研和工業檢測領域的廣泛需求。

高分辨率、高精度

　　? 優秀的光學設計實現了高時間、空間、光譜分辨率。

　　? 高精度光學延遲線在保證光學穩定性的同時，能夠實現高達3 fs的時間精度。

　　? 高分辨率的雙光譜儀配置，高信噪比探測。

　　? 可搭載顯微模塊，達到μm級空間分辨率。

更高效

　　? 高速光譜儀采集系統，可達最高2500幀/s全局采樣速率。

　　? 雙光譜儀配置帶光譜參考校準功能，保證測試信號的穩定性。

　　? 吸收測試范圍350-1650nm，一次采集所有光譜范圍數據。

更多功能與擴展性

　　? 可進行單色或雙色泵浦-探測或瞬態吸收測試。

　　? 透反射激發-收集設計，可實現透射/反射瞬態吸收光譜。

　　? 支持寬場成像、載流子遷移、熒光上轉換、光克爾以及納秒瞬態吸收等拓展

　　? 結合低溫、電學、磁學可進行原位時間分辨光譜表征。

　　? 可結合本公司其他光譜產品進行多光譜聯合測試，擴展顯微拉曼、熒光、角分辨光譜等功能，實現原位穩態與瞬態光譜。

　　? 體材料、薄膜、微納米材料，納米顆粒及溶液的瞬態吸收過程。

　　? 半導體材料的載流子動力學過程表征，時域熱性能表征等。

　　CrPS?納米片的飛秒瞬態吸收圖。顏色為ΔOD（mOD）。時間零點之后（>0 ps）在740–940 nm全譜吸光度均為正值。零點附近出現一條窄而強的正信號脊，隨后演化為寬譜的正吸收背景，強度隨時間緩慢衰減并持續至納秒時間尺度。

　　全正號表明動力學以激發態吸收/自由載流子吸收為主而非基態漂白。超快強峰（<1–2 ps）對應熱載流子或高能態的瞬時ESA，快速衰減；其后10–100 ps的衰減體現載流子冷卻與態間弛豫；納秒級長尾暗示陷阱/極化子或三重態等長壽命物種參與。輕微紅移與冷卻及帶隙重整化恢復一致。

　　在515 nm選擇性激發受體條件下，微區CsPbBr3單晶可見波段的瞬態動力學。

　　在短波區域出現明顯負信號區，為帶邊基態漂白；其上沿隨時間呈紅移/展寬趨勢，指示熱載流子冷卻與帶隙重整化的恢復。早期（<1–2 ps）帶邊附近疊加弱正信號，屬于瞬時激發態吸收，快速衰減。隨后在幾十到數百皮秒內漂白緩慢回升但持續到納秒尺度，表明載流子復合較慢/可能伴隨陷阱釋放；中長波一側（~620–660 nm）可見緩慢衰減的寬弱正吸收，對應更高能級或電荷/聲子相關的ESA分量。